JTAG. Standardele IEEE 1149.1, IEEE 1149.4, IEEE 1149.6 si IEEE 1532
Grupul de lucru Joint Test Action Group (JTAG) a fost format in 1985 de catre Harry Wardrop pentru a dezvolta o metoda de testare a placilor echipate dupa ce au fost produse.
Grupul JTAG a realizat primul standard de testare in 1990 (Standardul IEEE 1149.1) in care se regaseste arhitectura SCAN si Boundary Scan.
Tot in 1990 Intel a realizat primul procesor dotat cu JTAG, 80486. In 1994 a fost adaugat la standard un supliment care descrie limbajul BSDL (Boundary Scan Description Language). Curand JTAG a depasit utilizarea la testarea placilor si a inceput sa fie folosit la accesul modulelor interne ale circuitelor integrate pentru urmarirea functionarii lor (debugging).
Functionarea JTAG
La un circuit cu interfata JTAG functionarea este vizibila imediat dupa Reset. Un emulator sau interfata JTAG permite accesul la modulele interne care pot astfel sa fie urmarite.
Prin JTAG functionarea unui procesor poate fi oprita si un program se poate rula pas cu pas sau procesorul ruleaza un program si se introduc puncte de intrerupere in program.
Exista structuri cu acest mod de testare bine pus la punct cum sunt microcontrollerele ARM. O alta noutate introdusa este posibilitatea programarii memoriei flash a circuitului prin JTAG.
Circuitele cu JTAG cuprind in arhitectura lor un port de testare TAP (Test Access Port) care permite:
- Testarea functiilor circuitului;
- Testarea conexiunilor cu alte circuite;
- Excluderea circuitului din procesul de testare la nivelul plachetei;
- Operatii de autotestare executate de circuit (optional).
Structura cursului
- Principii generale si unelte de testare
- Structura SCAN
- JTAG. Standardele IEEE 1149.1, IEEE 1149.4, IEEE 1149.6 si IEEE 1532
- Interfata JTAG la microcontrollerul Atmega64
- Programarea memoriei prin JTAG
- Debugging prin JTAG
- Testarea prin JTAG
- Unelte pentru testare JTAG
Bibliografie: